冠测局部放电测试仪使用方法手册

局部放(fang)电测试仪使用方法(fa)手册说明书：
   1、局部放电测试(shi)仪开机(ji)准(zhun)备
    将“时基频率(lv)”选(xuan)(xuan)择(ze)7置(zhi)于“50（内）”、“时基工作(zuo)方式”5置(zhi)于“椭圆”。对数(shu)线性选(xuan)(xuan)择(ze)开(kai)关 2置(zhi)于线性。电源插座33接(jie)上220V工频电源，将电源开(kai)关12按(an)到“ON”位置(zhi)，开(kai)机预(yu)热5分(fen)钟。
2、仪器校准(zhun)
参照图4接(jie)好线后，在未(wei)加试验电压前用JZF型(xing)校正脉冲发生器予以校准。
    注(zhu)意：校正(zheng)脉冲发生器红(hong)端(duan)子上的导线(xian)尽(jin)量短且接在试(shi)品(pin)的高压端(duan)，黑(hei)端(duan)子导线(xian)接在试(shi)品(pin)的低(di)压端(duan)。
调(diao)(diao)节“放(fang)大(da)器增益(yi)细调(diao)(diao)”13与“放(fang)大(da)器增益(yi)粗(cu)调(diao)(diao)”15使注(zhu)入脉冲(chong)高度(du)适当（示波屏上显示高度(du)2cm以下）；电压、放(fang)电量(liang)数(shu)(shu)字表（3）的示数(shu)(shu)和(he)线性、对数(shu)(shu)指(zhi)针(zhen)表（1）的示数(shu)(shu)与注(zhu)入已知电量(liang)相符。
校准(zhun)完毕后，“放大(da)(da)器增益细调”（13）的旋钮(niu)位(wei)置不能再改变，在以后测试中(zhong)放大(da)(da)器的频带也不能改变，必须(xu)保持(chi)与校正时相同。
在校准完毕后(hou)，加试验电(dian)压(ya)前，一定要(yao)断开校正(zheng)脉冲发生器与试品的连接线，以防高电(dian)压(ya)打坏校正(zheng)脉冲发生器。
    下(xia)面以图4为例，介绍一种试(shi)验(yan)方法(fa)：
    例：用JZF－9或JZF－10型(xing)校正脉冲发(fa)生(sheng)器注入(ru)试(shi)品两端的(de)(de)电(dian)量(liang)为50pC，调节(jie)GH-6209局(ju)放(fang)仪面板粗调旋钮15，在第三档(dang)调节(jie)放(fang)大(da)器增益细调旋调13，使(shi)其表头“1”指(zhi)示(shi)为50pC。去掉校正脉冲发(fa)生(sheng)器，加入(ru)试(shi)验电(dian)压(ya)，此(ci)时(shi)表头1所指(zhi)示(shi)值即为放(fang)电(dian)量(liang)值的(de)(de)大(da)小(xiao)，如大(da)于50pC时(shi)应(ying)衰减“15”一档(dang)（“15”为放(fang)大(da)器增益粗调共分(fen)5档(dang)，每档(dang)20dB，10倍(bei)的(de)(de)关系）。
    3、局部放电测(ce)试(shi)仪测(ce)试(shi)操作(zuo)
    接通高压试(shi)验电(dian)路电(dian)源，将kV－pC选(xuan)(xuan)择(ze)(ze)开关(guan)4置(zhi)于(yu)“kV”,“零(ling)标(biao)(biao)(biao)选(xuan)(xuan)择(ze)(ze)”开关(guan)25置(zhi)于(yu)“R”位置(zhi)，缓缓升高试(shi)验电(dian)压，椭圆上将出现两个零(ling)标(biao)(biao)(biao)脉(mai)(mai)冲，零(ling)标(biao)(biao)(biao)相位差180°，如试(shi)验电(dian)压超过高压电(dian)阻R的额定电(dian)压等级，则(ze)可(ke)在(zai)低电(dian)压下将“零(ling)标(biao)(biao)(biao)选(xuan)(xuan)择(ze)(ze)”开关(guan)25置(zhi)于(yu)“内(nei)”位置(zhi)，出现由仪器产(chan)生(sheng)的辅助(zhu)零(ling)标(biao)(biao)(biao)脉(mai)(mai)冲，这时可(ke)以调节(jie)旋钮23，使辅助(zhu)零(ling)标(biao)(biao)(biao)相位与“R”档(dang)时相符（极性也要一致(zhi)），则(ze)在(zai)高压下不(bu)用高压电(dian)阻“R”也可(ke)获(huo)得正确(que)的零(ling)标(biao)(biao)(biao)位置(zhi)。
    旋转“椭圆(yuan)旋转”9使椭圆(yuan)转到预期的在放(fang)(fang)电(dian)(dian)(dian)时(shi)能zui利于观(guan)察(cha)之处，通(tong)常这个位置是零标脉冲(chong)分别处于椭园上部左(zuo)侧及下(xia)部右(you)侧之处。连续升高电(dian)(dian)(dian)压(ya)(ya)，注(zhu)意*次(ci)出现持续放(fang)(fang)电(dian)(dian)(dian)，当放(fang)(fang)电(dian)(dian)(dian)量超过规定(ding)的zui低值(zhi)时(shi)的电(dian)(dian)(dian)压(ya)(ya)即为局部放(fang)(fang)电(dian)(dian)(dian)起始电(dian)(dian)(dian)压(ya)(ya)。
    测(ce)试(shi)中常会发现(xian)有(you)各种干扰出现(xian)，可籍“时间窗”开关18、19、用一个(ge)或两个(ge)并用电(dian)位(wei)器17与 20来改变椭圆(yuan)上加亮(liang)区(qu)域的宽度与位(wei)置。使(shi)其避开干扰脉冲(chong)。用时间窗装置可以分(fen)别测(ce)量(liang)产生于两个(ge)半(ban)波内的放电(dian)量(liang)。
    4、频率高于50Hz的局部放电试验
    当(dang)须进行高(gao)于50Hz的局部放电(dian)试验时，可(ke)将(jiang)“时基频率”选(xuan)择7按在相应频率档(dang)上，从(cong)高(gao)频试验电(dian)源中取10V－250V试验电(dian)压(ya)送(song)入插(cha)座29上，（转动(dong)“高(gao)频电(dian)压(ya)”选(xuan)择8，使椭圆大小适当(dang)即(ji)可(ke)，）
    当“高频电压”选择8位(wei)置不当引起(qi)过(guo)载时(shi)，则电源(yuan)会(hui)自动(dong)(dong)切断，同时(shi)过(guo)载指示灯6亮(liang)，此(ci)时(shi)应(ying)将“高频电压”选择8顺时(shi)针方(fang)向(xiang)转到底，按一下“复位(wei)”按钮11即可(ke)恢复启动(dong)(dong)（过(guo)载指示灯6灭(mie)）。示波屏上出现椭(tuo)圆显(xian)示。
    注(zhu)意：为保护(hu)示(shi)波管(guan)，试验电(dian)压输入“高频电(dian)压”选择8所示(shi)值之(zhi)比(bi)大于(yu)15%时才(cai)有椭(tuo)园显示(shi)。    
（三(san)）局部放电测试仪附则
    1、放(fang)电类型(xing)和放(fang)电源的辨认
    先(xian)介绍一下(xia)示波屏上(shang)的(de)椭圆轨迹，它(ta)是顺(shun)时(shi)针方向(xiang)旋转，正零标脉冲表(biao)示试(shi)验电(dian)压开始(shi)由负(fu)变向(xiang)正极(ji)性；负(fu)零标脉冲则(ze)与之相反，两零标间的(de)中点(dian)为试(shi)验电(dian)压的(de)正、负(fu)峰值部位(wei)。
    从椭圆上的(de)放(fang)(fang)(fang)电(dian)(dian)(dian)(dian)图(tu)形(xing)(xing)辩(bian)认(ren)(ren)放(fang)(fang)(fang)电(dian)(dian)(dian)(dian)类(lei)型以及识(shi)别各种干扰是一(yi)门技(ji)术性很强并需有丰富实践经验的(de)学问（再结合其他方法予以确认(ren)(ren)）。CIGRE（大电(dian)(dian)(dian)(dian)网会议）也(ye)为(wei)须(xu)此专门编了放(fang)(fang)(fang)电(dian)(dian)(dian)(dian)图(tu)形(xing)(xing)识(shi)谱的(de)小册子(zi)，它是根据放(fang)(fang)(fang)电(dian)(dian)(dian)(dian)图(tu)形(xing)(xing)中放(fang)(fang)(fang)电(dian)(dian)(dian)(dian)位(wei)置、移动(dong)与否(fou)，正负半周的(de)放(fang)(fang)(fang)电(dian)(dian)(dian)(dian)幅值(zhi)一(yi)致程度以及放(fang)(fang)(fang)电(dian)(dian)(dian)(dian)幅值(zhi)随试验电(dian)(dian)(dian)(dian)压及加压时间的(de)变化特征来判断(duan)的(de)，这里只能粗略加以介绍(shao)。
    一般(ban)来(lai)说来(lai)，视为真正的(de)(de)内部(bu)(bu)气泡(pao)形成的(de)(de)局部(bu)(bu)放电(dian)(dian)，其主要特征是放电(dian)(dian)大多(duo)产生(sheng)在靠近(jin)试(shi)验电(dian)(dian)压峰(feng)值前上升部(bu)(bu)位(wei)的(de)(de)两半周内。
    （1）典型(xing)(xing)的(de)内部(bu)气(qi)泡局部(bu)放(fang)电(dian)(dian)(dian)(dian)（见图(tu)5），波(bo)形特征：a放(fang)电(dian)(dian)(dian)(dian)主要显示(shi)在试验电(dian)(dian)(dian)(dian)压由零升到(dao)峰(feng)值(zhi)的(de)两(liang)个椭圆相(xiang)限内。b在起始(shi)电(dian)(dian)(dian)(dian)压 Ui时放(fang)电(dian)(dian)(dian)(dian)通常发生(sheng)在峰(feng)值(zhi)附近，试验电(dian)(dian)(dian)(dian)压超过 Ui时，放(fang)电(dian)(dian)(dian)(dian)向零位延伸。c两(liang)个相(xiang)反半周(zhou)上(shang)(shang)放(fang)电(dian)(dian)(dian)(dian)次数和幅(fu)值(zhi)大(da)致相(xiang)同（zui大(da)相(xiang)差至3：1）。d放(fang)电(dian)(dian)(dian)(dian)波(bo)形可分辨。这(zhei)里又有(you)几种情(qing)况(kuang)：1）如果(guo)放(fang)电(dian)(dian)(dian)(dian)幅(fu)值(zhi)随试验电(dian)(dian)(dian)(dian)压上(shang)(shang)升而增大(da)，并且放(fang)电(dian)(dian)(dian)(dian)波(bo)形变得模糊(hu)不可分辨，则(ze)往(wang)往(wang)是介(jie)质内含有(you)多(duo)种大(da)小气(qi)泡，或是介(jie)质表面放(fang)电(dian)(dian)(dian)(dian)；2）如果(guo)除了(le)上(shang)(shang)述情(qing)况(kuang)，而且放(fang)电(dian)(dian)(dian)(dian)幅(fu)值(zhi)随加(jia)压时间而迅速(su)增长（可达(da)100倍(bei)或更多(duo)），则(ze)往(wang)往(wang)是绝缘(yuan)液体中(zhong)的(de)气(qi)泡放(fang)电(dian)(dian)(dian)(dian)，典型(xing)(xing)例子是油浸纸电(dian)(dian)(dian)(dian)容器的(de)放(fang)电(dian)(dian)(dian)(dian)。

           ;                    图   5
（2）局(ju)部放(fang)电(dian)测试仪金(jin)属与介(jie)质间气泡的(de)(de)放(fang)电(dian)（见图6  a），波形特征：正半周有(you)很多幅(fu)值小的(de)(de)放(fang)电(dian)，负半周有(you)少(shao)数幅(fu)值大的(de)(de)放(fang)电(dian)，幅(fu)值相差可(ke)达10：1。其它同(tong)上，典型例(li)子是绝缘与导体粘附不佳的(de)(de)聚乙(yi)烯电(dian)缆放(fang)电(dian)。如(ru)果随试验电(dian)压升(sheng)高，放(fang)电(dian)幅(fu)值也增(zeng)大，而且放(fang)电(dian)波形变(bian)得模糊，则(ze)往往中含(han)有(you)不同(tong)大小多个气泡，或者是外露(lu)的(de)(de)金(jin)属与介(jie)质表面之间出现的(de)(de)放(fang)电(dian)（见图6  b）。

                           图6    a                        图6     b
下面(mian)讨论(lun)一些主要(yao)视之为干扰或非(fei)正常放电的情况。
    （3）局部放电(dian)测试仪(yi)悬浮电(dian)位物体放电(dian)（见图(tu)7  a），波形特征：在(zai)电(dian)压(ya)峰值前的(de)正(zheng)负半(ban)周两个象限里出现，幅(fu)值、脉冲数(shu)(shu)和位置均相同，有时(shi)（如图(tu)7  b所示）成对出现，放电(dian)可移动，但(dan)它(ta)们(men)间(jian)的(de)相互间(jian)隔不(bu)变(bian)，电(dian)压(ya)升高(gao)时(shi)，根数(shu)(shu)增加，间(jian)隔缩小，但(dan)幅(fu)值不(bu)变(bian)，有时(shi)电(dian)压(ya)升到一定值时(shi)会消失(shi)，但(dan)降至此值又重新出现。原因：金属间(jian)的(de)间(jian)隙产生的(de)放电(dian)，间(jian)隙可能是(shi)地面上两个独(du)立的(de)金属体间(jian)也可能在(zai)样品内，例如屏(ping)蔽松散。

                    图7   a                              ;    图7   b
（4）局部放(fang)(fang)电(dian)测试仪(yi)外(wai)部电(dian)晕（见图(tu)8  a），波形(xing)特(te)征：起始放(fang)(fang)电(dian)仅出现在试验电(dian)压(ya)的一个半周上，并(bing)对称地(di)分(fen)布(bu)峰值两(liang)侧。试验电(dian)压(ya)升高时，放(fang)(fang)电(dian)脉冲数(shu)急剧增加，但幅值不(bu)变，并(bing)向两(liang)侧伸展(zhan)（如图(tu)8  b所示）。原因：空气中高压(ya)或边(bian)缘放(fang)(fang)电(dian)。如果放(fang)(fang)电(dian)出现在负半周，表示处于(yu)高压(ya)，如放(fang)(fang)电(dian)出现在正(zheng)半周则(ze)表示处于(yu)地(di)电(dian)位。


                      图8  ;  a                                   图8    b
（5）液(ye)体(ti)介(jie)质中(zhong)的电(dian)晕（图(tu)9  a），波形特征：放(fang)电(dian)出现在两个半周上，对(dui)称地分布在电(dian)压峰值两则(ze)。每(mei)一(yi)组(zu)(zu)放(fang)电(dian)均为等(deng)间隔，但一(yi)组(zu)(zu)幅(fu)(fu)值较大(da)的放(fang)电(dian)先出现，随试验(yan)电(dian)压升高而幅(fu)(fu)度增大(da)，不一(yi)定等(deng)幅(fu)(fu)值：一(yi)组(zu)(zu)幅(fu)(fu)值小的放(fang)电(dian)幅(fu)(fu)值相等(deng)，并(bing)且(qie)不随电(dian)压变化（如(ru)图(tu)9  b所(suo)示）。原因(yin)：绝缘(yuan)液(ye)体(ti)中(zhong)或边缘(yuan)放(fang)电(dian)，如(ru)一(yi)组(zu)(zu)大(da)的放(fang)电(dian)出现在正半周，则(ze)处于高压；如(ru)它出现在负半周，则(ze)处于地电(dian)位。

                  图9   a                                 图9   b
（6）接(jie)触(chu)不(bu)(bu)良（图10），波(bo)形(xing)特征：对称分布在试验电(dian)压(ya)零点两(liang)侧，幅值大致不(bu)(bu)变，但(dan)在试验电(dian)压(ya)峰(feng)值附近下降(jiang)为零，波(bo)形(xing)粗糙(cao)不(bu)(bu)清(qing)晰。低电(dian)压(ya)下即(ji)出现，电(dian)压(ya)增大时(shi)，幅值缓(huan)慢增加，有时(shi)在电(dian)压(ya)达(da)到(dao)一定值后*消失(shi)。原因(yin)：试验电(dian)路(lu)中金属(shu)与(yu)金属(shu)不(bu)(bu)良接(jie)触(chu)的连接(jie)点；塑料电(dian)缆屏蔽(bi)层半导体粒子的不(bu)(bu)良接(jie)触(chu)；电(dian)容器铝箔的插接(jie)片等（可将电(dian)容器充电(dian)然后短路(lu)来消除）。

          ;     ;     图10
（7）局部(bu)放电测试仪(yi)可(ke)控硅元(yuan)件（图11  a），波形(xing)特征(zheng)：位置固定，每只(zhi)元(yuan)件产(chan)生一个独(du)立讯(xun)号。电路接(jie)通，电磁耦合效(xiao)应增(zeng)强(qiang)时(shi)，讯(xun)号幅值(zhi)增(zeng)加。试验调(diao)压时(shi)，该(gai)脉冲讯(xun)号会产(chan)生高频波形(xing)展宽，从而占位增(zeng)加（图11  b），原因：邻近有可(ke)控硅元(yuan)件在运行。

                   图11 a                                    图11 b
（8）局部放(fang)电(dian)测(ce)试仪继电(dian)器(qi)、接(jie)触器(qi)、辉光管等动作(zuo)（图12），波形(xing)特征：波形(xing)不规则(ze)或间(jian)断出现(xian)， 同试验电(dian)压无关。原因：热(re)继电(dian)器(qi)、接(jie)触器(qi)和各种火花试验器(qi)及有火花放(fang)电(dian)的记录器(qi)动作(zuo)时(shi)产生。

 ;                  图 12

（9）局部(bu)放电测(ce)试仪异(yi)步电机(ji)（图(tu)13），波形特征：正负半(ban)周出现对称的(de)两簇讯(xun)号(hao)，沿椭(tuo)园(yuan)时(shi)基逆(ni)向以(yi)不变的(de)速度(du)旋转(zhuan)。原因：异(yi)步电机(ji)运行讯(xun)号(hao)耦合到检测(ce)电路(lu)中(zhong)了。